Panoramica della microscopia a forza atomica (AFM)
Introduzione alla microscopia a forza atomica (AFM) La microscopia a forza atomica (AFM) è un tipo di microscopia a scansione utilizzato per l’imaging di superfici su scala nanometrica. Funziona utilizzando una punta di sonda affilata che viene trascinata sulla superficie del campione da studiare. Mentre la punta viene trascinata, viene misurata la forza tra la … Read more